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シリコンウェーハ集積回路と半導体デバイスの基礎です。興味深い特徴があります - 平らな端や側面の小さな溝。これは欠陥ではなく、意図的に設計された機能的なマーカーです。実際、このノッチは、製造プロセス全体を通じて方向の基準および識別マーカーとして機能します。
初期のウェーハでは、主に「フラット」をマーカーとして使用していました。これは、円形のエッジに研削された短い直線セグメントを意味します。これらの平坦部の位置と数は、結晶方位とドーピングの種類を区別するために使用されました。ウェーハサイズが大きくなり、プロセス精度が向上するにつれて、主流の 200 mm および 300 mm ウェーハは小さな円弧状のノッチ設計にほぼ標準化されました。このノッチの位置は規格によって定義されており、一定の向きに配置されており、ウェーハの結晶方位 (<100> または <111> など) を示し、後続の装置に共通の基準点を提供するために使用されます。
ウェーハのノッチの機能は何ですか?
デバイスおよびプロセスのエンジニアにとって、ウェーハ上のノッチは重要ではないように見えるかもしれませんが、結晶引き上げ、エピタキシー、ウェーハ製造からパッケージング前のテストに至るまで、プロセスチェーン全体を貫いています。結晶の方向、レイアウトの配置、応力の方向、さらには特定のパワー デバイスの構造設計など、「方向」が関係するときは常に、この小さな幾何学的なマーカーが背景に表示されます。ノッチの役割を理解すると、ウェーハが生産ライン内をどのように「移動」するか、各プロセスステップがこのシリコン部分の周りに座標系をどのように構築するかを追跡するのがはるかに簡単になります。


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