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薄膜コーティングからバルク材料への CVD-SiC の進化10 2026-04

薄膜コーティングからバルク材料への CVD-SiC の進化

半導体製造には高純度の材料が不可欠です。これらのプロセスには、極度の熱と腐食性化学物質が含まれます。 CVD-SiC (化学蒸着炭化ケイ素) は、必要な安定性と強度を提供します。純度が高く密度が高いため、現在では先端機器部品の主な選択肢となっています。
SiC 成長の目に見えないボトルネック: 7N バルク CVD SiC 原料が従来の粉末に取って代わられる理由07 2026-04

SiC 成長の目に見えないボトルネック: 7N バルク CVD SiC 原料が従来の粉末に取って代わられる理由

炭化ケイ素 (SiC) 半導体の世界では、ほとんどのスポットライトが 8 インチのエピタキシャル リアクターやウエハー研磨の複雑さに当てられています。しかし、サプライチェーンをその始まり、つまり物理蒸気輸送 (PVT) 炉の内部まで遡ってみると、根本的な「材料革命」が静かに起こっています。
PZT 圧電ウェハー: 次世代 MEMS 向けの高性能ソリューション20 2026-03

PZT 圧電ウェハー: 次世代 MEMS 向けの高性能ソリューション

MEMS (Micro-Electromechanical Systems) が急速に進化する時代においては、適切な圧電材料を選択することがデバイスの性能の勝敗を左右します。 PZT (チタン酸ジルコン酸鉛) 薄膜ウェハは、AlN (窒化アルミニウム) などの代替品よりも優れた選択肢として浮上しており、最先端のセンサーやアクチュエーターに優れた電気機械結合を提供します。
高純度サセプタ: 2026 年のカスタマイズされた半導体ウェーハ歩留まりの鍵14 2026-03

高純度サセプタ: 2026 年のカスタマイズされた半導体ウェーハ歩留まりの鍵

半導体製造が高度なプロセスノード、より高い集積度、および複雑なアーキテクチャに向けて進化し続けるにつれて、ウェーハ歩留まりの決定要因は微妙に変化しつつあります。カスタマイズされた半導体ウェーハ製造において、歩留まりのブレークスルーポイントはもはやリソグラフィーやエッチングなどのコアプロセスだけにあるわけではありません。高純度サセプタは、プロセスの安定性と一貫性に影響を与える根本的な変数になりつつあります。
SiC 対 TaC コーティング: 高温パワーセミプロセスにおけるグラファイトサセプターの究極のシールド05 2026-03

SiC 対 TaC コーティング: 高温パワーセミプロセスにおけるグラファイトサセプターの究極のシールド

ワイドバンドギャップ (WBG) 半導体の世界では、高度な製造プロセスが「魂」であるとすれば、グラファイトサセプターは「バックボーン」であり、その表面コーティングは重要な「スキン」です。
第三世代半導体製造における化学機械平坦化 (CMP) の重要な価値06 2026-02

第三世代半導体製造における化学機械平坦化 (CMP) の重要な価値

一か八かのパワー エレクトロニクスの世界では、炭化ケイ素 (SiC) と窒化ガリウム (GaN) が電気自動車 (EV) から再生可能エネルギー インフラに至るまでの革命の先頭に立っています。しかし、これらの材料の伝説的な硬度と化学的不活性は、製造上の大きなボトルネックとなっています。
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