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半導体の高温プロセスでは、ウェーハの取り扱い、支持、熱処理は特別な支持コンポーネントであるウェーハボートに依存します。プロセス温度が上昇し、清浄度やパーティクル制御の要件が高まるにつれて、従来の石英ウェーハボートでは耐用年数の短さ、変形率の高さ、耐食性の低さなどの問題が徐々に明らかになってきました。

炭化ケイ素基板の工業規模の生産では、1 回の成長実行の成功が最終目標ではありません。本当の課題は、異なるバッチ、ツール、期間にわたって成長させた結晶が高レベルの品質の一貫性と再現性を維持できるようにすることにあります。これに関連して、炭化タンタル (TaC) コーティングの役割は基本的な保護を超え、プロセスウィンドウを安定させ、製品の歩留まりを保護する重要な要素となります。

炭化ケイ素 (SiC) PVT の成長には、厳しい熱サイクル (室温 2200 ℃ 以上) が伴います。熱膨張係数 (CTE) の不一致によりコーティングとグラファイト基板の間に発生する巨大な熱応力は、コーティングの寿命とアプリケーションの信頼性を決定する中心的な課題です。