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ウェーハのダイシングプロセス中に CO₂ が導入されるのはなぜですか?

ウェーハ切断中にダイシング水に CO₂ を導入することは、静電気の蓄積を抑制し、汚染リスクを低減するための効果的なプロセス手段であり、それによってダイシングの歩留まりとチップの長期信頼性が向上します。

シリコンウェーハは集積回路および半導体デバイスの基礎です。平らなエッジや側面の小さな溝など、興味深い特徴があります。これは欠陥ではなく、意図的に設計された機能マーカーです。実際、このノッチは、製造プロセス全体を通じて方向の基準および識別マーカーとして機能します。

化学機械研磨 (CMP) は、化学反応と機械的研磨の組み合わせにより、余分な材料や表面の欠陥を除去します。これはウェーハ表面の全体的な平坦化を達成するための重要なプロセスであり、多層銅配線や low-k 誘電体構造には不可欠です。実際の製造現場では

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