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絶縁体のウェーハ上のシリコン
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絶縁体のウェーハ上のシリコン

Vetek Semiconductorは、絶縁体のウェーハ上のシリコンのプロの中国のメーカーです。 絶縁体ウェーハのシリコンは重要な半導体基質材料であり、その優れた製品特性により、高性能、低電力、高統合、RFアプリケーションで重要な役割を果たします。あなたの相談を楽しみにしています。

作業原則それは半導体です's絶縁体のウェーハ上のシリコン主に、そのユニークな構造と材料特性に依存しています。そして ソイウェーハ3つの層で構成されています。最上層は単結晶シリコンデバイス層で、中央は絶縁された酸化物(箱)層であり、下層はサポートするシリコン基質です。

Silicon On Insulator Wafers(SOI) Structure

絶縁体ウェーハ(SOI)上のシリコンの構造


断熱層の形成:絶縁体のシリコンは、通常、Smart Cut™テクノロジーまたはSimox(埋め込まれた酸素による分離)技術を使用して製造されています。 Smart Cut™テクノロジーは、水素イオンをシリコンウェーハに注入してバブル層を形成し、水素注入ウェーハをサポートシリコンに結合しますウェーハ。 



熱処理後、水素注入ウェーハはバブル層から分割され、SOI構造を形成します。Simoxテクノロジーインプラント高エネルギー酸素イオンはシリコンウェーハにイオンになり、高温でシリコン酸化物層を形成します。


寄生容量を減らします:のボックスレイヤーシリコンカーバイドウェーハデバイスレイヤーとベースシリコンを効果的に分離し、大幅にレジュシンG寄生容量。この分離により、消費電力が削減され、デバイスの速度とパフォーマンスが向上します。




ラッチアップ効果を避けてください:n-wellおよびp-wellデバイスソイウェーハ従来のCMOS構造でのラッチアップ効果を回避し、完全に分離されています。これにより許可されますウェーハソイ 高速で製造されます。


エッチング停止機能単結晶シリコンデバイス層SOIウェーハのボックスレイヤー構造は、MEMSとOptoelectronicデバイスの製造を促進し、優れたエッチングストップ機能を提供します。


これらの特性を通して、絶縁体のウェーハ上のシリコン半導体処理に重要な役割を果たし、統合回路(IC)の継続的な開発を促進しますマイクロエレクトロメカニカルシステム(MEMS)産業。私たちはあなたとのさらなるコミュニケーションと協力を心から楽しみにしています。


200mm Sol Wafers仕様パラメーター:


                                                                                                      200 mm Sol Wafers仕様
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説明
価値
                                                                                                                  デバイスシリコン層
1.1 厚さ
220 nm +/- 10 nm
1.2 生産方法
CZ
1.3 クリスタルオリエンテーション
<100>
1.4 導電率タイプ p
1.5 ドーパント ボロン
1.6 抵抗平均
8.5-11.5 0hm*cm
1.7 RMS(2x2UM)
<0.2
1.8 LPD(サイズ> 0.2um)
<75
1.9 0.8ミクロン(面積)を超える大きな欠陥
<25
1.10

エッジチップ、スクラッチ、クラック、ディンプル/ピット、ヘイズ、オレンジピール(目視検査)

0
1.11 結合ボイド:目視検査>直径0.5mm
0



絶縁体のシリコンウェーハ生産ショップ:


Silicon On Insulator Wafers shops


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